AOI-Tester für Golddrahtprüfungen, Chipprüfungen, Sensorprüfungen, Designansatz mit doppelter Messung

Testprogramm

Golddrahtinspektion:

Goldkugelgröße, Lötstellenversatz, exzentrische Goldkugel, Lötstellen-Nichtanhaftung, Lötstellen-Überbrückung, fehlende Kugelplatzierung, Lötstellen-Haftung, Lötstellen-Fremdkörper, Aluminiumverlust, überlappende Lötstellen, beschädigte Schutzschicht, gebrochene Lötstellen, Goldverlust in Goldfingern, große flache Kugeln, nicht gelötete Drähte, falsch gelötete Drähte, fehlende gelötete Drähte, gebrochene Drähte, überlappende Drähte, überbrückende Drähte, verbleibende Golddrähte, überlappende gelötete Drähte, abfallende Drähte;

Chipinspektion

Wafer-Chipinspektion

Wafer-Chipinspektion

Halbleiterpaket-Testausrüstung

Ultrahochpräzise Ganzplatten-Bildtechnologie

Ultrahochpräzise Ganzplatten-Bildtechnologie

basiert auf Ganzplatten-Nahtlostechnologie realisiert hochpräzise quantitative Wertmetrologie wie Versatz und Winkelkovarianz.

μ-Level Metrologie-Steuerfähigkeit

geschlossenes Regelsystem zur Gewährleistung der Positionsgenauigkeit

<1um.

Elektronische IO-Steuerung

lange Lebensdauer, stabil und geräuschlos; LED-Statusanzeige.Vision-Systeme

Industriekamera

Hochgeschwindigkeits-Mehrbild-Industriekameras werden verwendet.

Telezentrisches optisches System

Hohe Schärfentiefe, geringe Verzerrung, Vollpixel, Festauflösungsdesign.

Konstantstrom-Lichtquellcontroller

Vollständig geschlossener digitaler Konstantstromregler zur Gewährleistung der Stabilität und Gleichmäßigkeit der Lichtquellenhelligkeit.

Prozesskontrolle SPC

1. Statistiken von CPK, Durchschnittswert, Extremabweichung, Standardabweichung, Maximalwert, Minimalwert des Produkts.

2. Anpassbare Kontrollkarten für die Regeln bei Kontrollverlust und Alarmmeldungen.

3. Aufzeichnung der Ursache des Kontrollverlustpunkts und der ergriffenen Maßnahmen, gespeichert in der Datenbank.

Technische Parameter

Gerätemodell

ST-2000L

Erfassungskapazität